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静态存贮器专利技术12
002 非易失性存储装置 003 具有存储器器件的集成电路及用于测试该集成电路的方法 004 调节磁存储单元的写入电流 005 栅控二极管存储器单元及其写入方法 006 采用时钟倍频器对嵌入式存储器进行自动比特故障映射 007 存储器 008 半导体集成电路装置 009 半导体存储装置 010 更新振荡器 011 锁存电路和包括该电路的同步存储器 012 半导体器件 013 激活由行地址启动的字线段的方法和半导体存储器件 014 半导体存储器件 015 延迟电路、强电介质存储装置及电子设备 016 P沟道电可擦可编程只读存储器的编程方法 017 适于在单个存储单元中存储多值的非易失性半导体存储器件 018 用于非挥发性存储器电路的电荷泵 019 用于读取存储单元的读取电路 020 降低聚合物存储器中写干扰的影响 021 读取结构相变存储器的方法 022 电荷注入方法 023 可变延滞时间堆栈快取存储器及提供资料的方法 024 一种EEPROM在板编程方法 025 一种电可擦写存储器编程电路 026 低工作电压驱动的电荷泵电路 027 每单元使用多个状态位以处理写操作期间的电源故障 028 基于串行高级技术结构接口的半导体存储装置 029 存储装置读取相位自动校正方法与相关机制 030 闪存介质中的数据操作方法 031 闪存介质数据写入方法 032 用于存储设备的预测定时校准 033 具有以有机半导体为基础的晶体管及非易失性读/存储器胞元的半导体装置 034 熔丝技术及操作方法 035 提供多个工作电压的半导体器件卡 036 包含交叉点电阻元件的交叉点存储器阵列的寻址电路 037 磁随机存取存储器及其制造方法 038 磁存储器件 039 铁电体随机存取存储器器件和驱动方法 040 存储电路、半导体装置及电子设备 041 存储电路、半导体装置、电子设备以及驱动方法 042 铁电存储装置、电子设备、以及驱动方法 043 印记抑制电路方案 044 存储电路、半导体装置以及电子设备 045 具有外部数据加载信号的存储器件及其串并数据预取方法 046 熔丝电路 047 半导体存储装置 048 半导体存储装置 049 半导体存储装置 050 用于高速数据存取的半导体存储装置 051 独立式刷新记忆体电容的方法及装置 052 根据温度变化而具有最佳刷新周期的半导体存储装置及其方法 053 半导体存储器件的激活电路 054 半导体存储器装置的加电电路 055 半导体存储装置中的加电电路 056 半导体存储装置内的内电压产生电路 057 半导体存储器件及其数据读取和写入方法 058 用于相变存储阵列的置位编程方法和写入驱动器电路 059 具有加强编程和擦除功能的与非闪速存储器及其制造方法 060 具有可伸缩二晶体管存储单元的非易失性半导体存储设备 061 半导体读出电路 062 使用时钟信号的数据选通电路 063 具有高级测试模式的半导体存储装置 064 磁性随机存取存储器阵列窄导体设计 065 在半导体存储器件中提高刷新周期 066 用于双单元存储元件的有效读取和编程的方法和系统 067 用于防止错误的数据存储的产品和方法 068 非易失存储器测试结构和方法 069 叠层型半导体存储装置 070 铁电存储设备 071 半导体记忆电路及其待命模式操作方法 072 半导体器件 073 非易失性半导体存储器 074 用于闪速存储器的数据恢复设备和方法 075 移位寄存器及用其的显示驱动装置、显示装置、电子设备 076 用于自适应调节数据接收器的方法和装置 077 存取单端口存储设备的方法,存储器存取设备,集成电路设备和集成电路设备的使... 078 具有非矩形存储条的存储芯片结构以及用于布置存储条的方法 079 MRAM制程中穿隧接合帽盖层、穿隧接合硬罩幕及穿隧接合堆栈种子层之材料组... 080 使用可变电阻存储元件的存储装置及用于该装置的参考电阻值确定方法 081 用于高密度MRAM应用的合成铁氧磁材料传感层 082 多数据状态存储单元 083 可编程导体随机存取存储器以及用于检测它的方法 084 半导体存储装置 085 数据存储设备及其刷新方法 086 动态参考编程的算法 087 用于动态页编程的更新设计 088 使用双动态参考的用于多位闪存读取的系统和方法 089 存储电路及其生成方法 090 具有无源存储元件的存储器中改善读取的方法 091 随机存取存储器初始化 092 改变移动存储设备功能或状态的方法 093 存储电路、半导体装置、电子设备以及驱动方法 094 具低峰值电流的更新控制器 095 用于降低地址存取时间的半导体存储设备 096 半导体集成电路 097 调节半导体存储器装置中转换速率的装置与方法 098 非易失性半导体存储器件 099 多级闪存的部分页编程 100 从一个集成电路的物理参数中提取一个二进制代码 101 具有分布式行地址计数器的并发刷新模式的嵌入式DRAM 102 电源开启重置的解除装置及方法 103 闪存的程序化验证方法 104 半导体装置 105 验证测试用ROM的方法 106 用于拟静态存储装置的异步接口电路和方法 107 铁电内存中增加读取信号 108 磁阻存储器件和组件以及存储和检索信息的方法 109 数据存储电路及其中的数据写入方法,以及数据存储设备 110 复合存储电路及具有该电路的半导体器件 111 制造参考层之方法及备有此型参考层之MRAM存储单元 112 包括多个堆叠的矩阵可寻址存储器件的立体数据存储装置 113 可寻址内容之记忆单元 114 半导体存储装置 115 磁存储器件及其制造方法 116 磁阻器件 117 电流阈值检测器 118 半导体存储器件 119 存储器 120 具防写功能的微型存储装置 121 移位寄存器和MOS型固态摄像传感器 122 一种嵌入式存储器的测试装置 123 半导体记忆装置及操作半导体记忆装置方法 124 热选择交叉点磁性随机存取内存胞元布局 125 链接记忆架构中冗余 126 内存可挠冗余 127 用地址信号设置运行模式的方法和存储系统 128 形成不含接触孔的纳米尺寸的磁性隧道结单元的方法 129 冗余减轻电路 130 在动态存储器中实现查表控制器的方法 131 半导体器件 132 存储卡和半导体器件 133 非易失性半导体存储器件 134 半导体存储器件和半导体存储器件的测试方法 135 调整读出电压的存储器存储装置 136 于镶嵌结构中制造磁性随机存取内存补偿单元的方法 137 具降低粗糙度之电阻性存储元件 138 利用映像存储器降低备用功率 139 串行读出多级单元阵列输出 140 具有检查和纠错的内容可寻址存储器(CAM) 141 通过使用关于所存储数据的质量的信息来增加错误校正码的效率和操作多电平存储... 142 多功能数据存储装置及方法 143 包括热量产生层的磁随机存取存储器及相关方法 144 在半导体存储器装置中的片内终结上的模式转移电路 145 半导体存储装置及其刷新控制方法 146 偏置电压施加电路和半导体存储装置 147 非挥发性半导体存储器件 148 存储电路的参考电压的产生 149 具有2T存储器单元的存储器阵列 150 用于减小电子器件内漏电流影响的器件 151 使用预先擦除步骤擦除闪存的方法 152 数据存储装置 153 具有用于不同信号频率的不同端接器单元的存储装置 154 温度受控、热辅助磁性存储器件 155 半导体存储器 156 半导体器件 157 非易失半导体存储设备以及在其中编程的方法 158 非易失性半导体存储器件 159 单端电流检测放大器 160 用于智能卡的恢复方法 161 非易失性存储电路及其驱动方法和使用该存储电路的半导体装置 162 具改善可靠性之铁电记忆集成电路 163 电子控制装置 164 带有在I/O监视内部计时控制信号的测试模式的半导体存储器器件 165 高阶区域效能的资料线路结构 166 半导体器件 167 半导体集成电路 168 动态型半导体存储装置 169 静态随机存取存储器的输出装置 170 半导体存储装置 171 多级闪存设备与编程方法 172 存储单元奇偶连续校验的奇偶校验电路 173 减少软错误率的负微分电阻元件和存储器 174 用于流水线存储器的有效读取/写入方法 175 用于在铁电存储器件中制造铁电存储单元的方法,以及铁电存储器件 176 改进的存储器集成电路 177 半导体存储器 178 存储器中软故障检测的方法和装置 179 集成电路 180 相变存储器件和写相变存储器件的方法 181 半导体设备 182 基于晶体管栅极氧化物击穿的组合现场可编程门阵列 183 半导体存储装置中的延迟锁定回路及其时钟锁定方法 184 存储设备 185 采样保持电路 186 用于预烧测试的存储器装置以及方法 187 平衡负载存储器和操作方法 188 用于延迟电路的方法和装置 189 半导体存储装置中字线的锁存方法 190 写入切换存储器的电路和方法 191 铁电存储器 192 含有铝盐化合物和不对称丙烯酸酯化合物的全息数据存储介质 193 可擦除且可编程非易失性单元 194 在非易失性存储器中写入的方法以及实现这种方法的系统 195 顺序熔丝锁存器操作移位寄存器 196 用于具有动态升压字线的寄存器堆中的性能提高技术 197 以小读取电流侦测电子式熔丝状态的小型电路 198 产生写入门控时钟信号的方法和装置 199 具语音提醒的录音笔及计时语音提醒的方法 200 半导体集成电路装置 201 消除半导体存储器设备中的符号间干扰的装置及其方法 202 用于产生内部时钟信号的装置 203 动态RAM存储方法 204 半导体存储装置 205 测试半导体存储单元和存储阵列的可编程性的方法和电路 206 移位缓存器和使用该缓存器的显示板及改善漏电流的方法 207 带有存储器的半导体器件和存储器测试的方法 208 半导体存储器件及其初始化方法 209 编程相变材料存储器 210 半导体存储器 211 内存组件 212 包含磁致电阻元件的半导体存储装置及其制造方法 213 可程序金属氧化半导体存储电路及其可程序方法 214 半导体存储器设备与定时控制方法
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