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长度、厚度或类似线性尺寸的角度面积不规则的表面或轮廓的计量专利技术07

001 定位仪
002 一种测量印刷电路板变形的方法
003 基于高精度电感测头的逐级递推式纳米级测量系统
004 一种结构光视觉传感器的标定方法
005 一种多视觉传感器检测系统全局标定方法
006 测量薄层厚度的设备
007 物体表面三维形貌量测方法和系统
008 薄膜厚度测量装置和反射系数测量与异物检测装置和方法
009 用于焊接检测的特征量计算设备
010 导光板网点测量定位尺及其测量方法
011 转动角度检测装置
012 位置检测方法及位置检测装置
013 一种立式大口径非球面镜检验装置
014 显微镜机械筒长测量装置及测量方法
015 测量参考面旁边通过的部件与参考面间距离的方法及系统
016 钢琴琴键排列平整性测量器
017 用于无毁损地测量薄层厚度的装置
018 测量光学透明体的光学和物理厚度的方法
019 利用散射测量的线路轮廓不对称测量法
020 直角测量装置
021 长度测量装置
022 介电层厚度的测量方法及其装置
023 高精度单F-P板角位移测量仪
024 使用电子尺配合电子量测仪测量的方法和装置
025 超精密零件长度直接测量装置
026 用于测定辊与对象物之间距离的卡具和距离测定方法
027 接触式物体位姿测量装置
028 机器人直线轨迹特性测量方法及所用测量装置
029 一种高清晰度投影仪装置
030 平面度检测方法及使用这种方法的检测装置
031 表面安装芯片封装
032 用于汽车的位置检测可变电阻
033 一种实现阿贝误差实时补偿的激光干涉测长系统
034 影像测量系统和方法
035 并行像散三维光聚焦探测方法及装置
036 测定装置
037 高分辨率气量计式接近传感器
038 光学定位系统和计算该光学定位系统移动值的方法
039 自校准位置测定系统
040 测量和水平校准装置及其使用方法
041 基板位置偏差检测装置及基板位置偏差检测方法
042 确定包括体积力作用的层状和渐变结构的大形变和应力
043 共焦点显微镜、光学式高度测定方法及自动聚焦方法
044 尺子
045 测量探针,尤其用于一种测量薄层厚度的装置
046 用于测量高线性磁通密度的角位置传感器
047 机器人清洁装置位置标记检测法和用该方法的机器人清洁装置
048 测量特别是烟草加工业的棒状物的直径的装置和方法
049 利用影像测定方位的方法
050 电机的测量装置和测量方法
051 可调整的探头
052 可调整的探头
053 可调整的探头
054 可调整的探头
055 角度传感器
056 用于低相干性测量和高相干性测量的干涉仪设备及方法
057 玻璃基板与IC压合偏移量检测装置及方法
058 外观检测装置以及图象获得方法
059 测定装置
060 一种绝对式矩阵编码器粗码译码校正的方法及其电路
061 摆线型机油泵内、外转子测量方法
062 电感式传感器和配置此传感器的旋转发送器
063 利用磁场测量结果分析分离表面之间间隔的方法和设备
064 确定扁平带状电缆的导线路径区域中的绝缘层厚度的方法和设备
065 一种电子显微镜测量物质长度的方法
066 一种用于确定堆积物体如板状物体的边缘表面位置的方法和装置
067 位移测定器
068 检测陶瓷插芯开口夹角的方法及其装置
069 一种霍尔位置传感器
070 光纤装置及其制造方法、光轴调整方法
071 用于检测可在坐标轴上移动的滑架的空间位置的装置
072 光学元件的制造方法
073 夹紧装置的倾斜调整方法
074 缺陷检查装置、缺陷检查方法和孔图形的检查方法
075 工件的内径尺寸测量方法及装置
076 电子部件安装装置校正方法和使用该方法的装置
077 用于检测多坐标测量仪中探头元件位置的装置
078 探测系统
079 超精密回转基准空间误差自分离方法与装置
080 宽频白光干涉仪
081 机器视觉检测系统与方法
082 电光角度测量装置
083 具有高空间分辨力的差动共焦扫描检测方法
084 差动离焦并行全场三维检测方法及装置
085 直线位移容栅式全防水电子数显卡尺
086 图像识别用面光源装置
087 小型在线径向剪切干涉仪及其测量非球面的方法
088 无扫描物镜的光学扫描外径测量系统及其测量方法
089 用双色光栅模板产生π相移实现傅里叶变换轮廓术的方法
090 具有高空间分辨力的整形环形光束式差动共焦传感器
091 可调精度的神经网络摄像机标定方法
092 磁悬浮微运动平台高度测量与校正方法及其装置
093 磁性编码器
094 一种精密平行度测量方法
095 用于扫描刻度体的扫描单元
096 一种测量纱线截面形状的方法及装置
097 测量仪
098 测定装置
099 导光板网点测量方法
100 无源磁性位置传感器,用于制造无源磁性位置传感器的方法
101 油气管道壁厚及缺陷检测系统
102 用于位置测量系统的计量器
103 标记位置检测装置
104 用于根据检查结果筛选工件的设备和方法
105 形状测定装置
106 自校准位置确定系统和用户界面
107 表面特性测量方法及坐标测量装置
108 卷尺
109 一种容栅位移传感器及其制作方法
110 机械形变量检测传感器
111 从条纹图像提取圆形区域的方法
112 电缆绝缘层厚度X光检测方法
113 样品的倾斜误差调整的辅助方法
114 倾斜调节装置,套圈夹持装置,及装有上述装置的干涉仪装置
115 光学校准机自动测量方法
116 二维编码式零位对准标记和编码方法
117 识别移动机器人位置和方向的装置和方法
118 位移传递的大比例缩微及振弦差动变化机构
119 变面积电容式模拟调制输出型角位移传感器
120 变面积电容式数字并行输出型角位移传感器
121 利用衍射特征的分析对焦点中心的判断
122 位置探测法和装置、曝光法和设备、控制程序以及器件制造法
123 用于获取机械零件由热引起的纵向膨胀量的装置
124 借助坐标测量仪测量物体几何形状的方法
125 电梯的绳索规
126 一种精密坐标测量方法及其装置
127 半导体泵浦全固体激光多功能电子散斑干涉仪
128 一种测量宽带光源双光束干涉零光程差位置的方法
129 工件表面粗糙度测量方法及装置
130 高度测量机
131 用于测量成形目标的成形的非接触电容式位移传感器
132 电站锅炉回转式空气预热器间隙传感器
133 器件检验
134 非接触三维形状测定方法及装置
135 对准键合精度检测系统
136 一种空间三维自由曲线的测量方法
137 用于测量移动通信基站天线的资源信息的方法和装置
138 一种自由曲面的测量方法
139 利用液体获取产品几何形状的方法及其装置
140 一种油气井井下套管径向检测方法
141 人体毛孔孔径位移传感器及其信号处理电路
142 电容检测装置及其驱动方法、指纹传感器和生物识别装置
143 静电电容检测装置
144 一种反射尺读头装置
145 测量仪
146 带有平坦度测量辊的薄带材卷取机
147 用于测定导轨平直度的方法和装置
148 多坐标感知测量装置
149 测量及教学直尺
150 位移检测方法、位移检测装置及其校正方法、及信息记录媒体母盘的记录装置
151 容栅直移式数显千分尺
152 X射线双频全息干涉仪
153 光轴与安装基面平行度的检验方法
154 用于浸入式光刻的液流接近探测器
155 非接触测量系统和方法
156 一种采用三圈码道输出十三位码的绝对式矩阵编码盘
157 大跨径桥梁结构挠度监测方法
158 一种测量电磁轴承转子轴向位移的方法
159 微型倾角器
160 一种光纤准直器阵列对准调节装置
161 一种尺带收放灵活的卷尺
162 钻孔测斜和轴向变形三维共线测量环
163 钻孔测斜和轴向变形三维共线测量方法
164 一种真空激光坝变形测量方法
165 基于显微干涉技术的微机电系统的测试装置与方法
166 多量子阱红外探测材料的结构层厚获取方法
167 准直测量装置
168 便携式空间相对坐标及距离测量系统
169 轧制过程预测钢板厚度的方法
170 媒体分配器的媒体检测方法
171 半导体激光器安装对准和校准的方法
172 一种重力感应倾角传感器
173 大坝面板挠度或坝体内部变形监测方法及其装置
174 坝体面板挠度或坝体内部水平及垂直变形的测量系统
175 非接触数字磁条、光栅条读出式位移传感器
176 牵轴式位移传感器
177 摩托车方向轮的转向角度及扭矩的测量方法
178 具有防水功能的大量程位移传感器
179 微透镜结构参数及面形畸变的快速检测方法
180 对相位差不敏感的交点跟踪式莫尔(干涉)条纹信号计数细分方法及装置
181 显微镜聚焦测高方法
182 狭缝间距测量方法及传感器
183 辊嘴间距测量方法及传感器
184 动态角度测量装置
185 一种带内外隔圈双列圆锥轴承轴向游隙的测量装置和方法
186 一种地下洞室、隧道非接触式收敛监测的方法
187 光学三维测量用高精密组合光栅器件
188 用频闪结构照明实现高速运动物体三维面形测量的方法
189 三坐标精密移动平台
190 一种波高测量方法
191 多功能三维位移激光干涉测量系统
192 一种光学镀膜近红外膜厚监控仪
193 表面特性测量机及其校正方法、校正程序、记录媒体
194 检测厚度的传感器
195 感应式旋转角度传感器和以此配备的自动同步发送机
196 路径匹配路径型干涉仪装置
197 光移动量检测装置、电子设备以及传送处理系统
198 使用光纤接收器通道的绝对位置小型光栅编码器读头
199 位移计和位移测定方法
200 卡尺
201 用于提高光声膜厚度测量系统中的信噪比的方法和设备
202 测量系统中的方法和装置
203 三维坐标测量仪用量器
204 利用二维反射计测量多层薄膜的厚度轮廓和折射率分布的装置及其测量方法
205 位置测量装置及运行位置测量装置的方法
206 利用投射干涉条纹及评价绝对相位映射的三维成像
207 激光线发生装置
208 自载入空间参考点阵列
209 双向引张线装置
210 电感调频式智能数码位移传感器
211 冰层厚度传感器及其检测方法
212 一种可调光学移相器及移相过程


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